品牌測(cè)試機(jī)：
Advantest V93K/T2K/T53系列
EVA100/Teradyne J750EX/M2
Chroma 3380P/3380D /3360P
NI STS T4/PXI/Accotest STS8200
探針臺(tái)：
Precio XL / P-12XLN 
UF3000/UF200

品牌分選機(jī)：
NS-8080 / NS-8040
CRH8516 / CRH8508
MT9510/1028C /TAIJI
可測(cè)試的封裝類型：
SIP 、QFP、LQFP、QFN、PLCC、 BGA、DIP、SOP、SSOP、TSOP、 TSSOP、μBGA及CSP等

為上千種不同類型芯片，

如MCU芯片、MEMS（傳感器）、

高低溫驗(yàn)證分析

AI芯片、指紋識(shí)別安全芯片、

存儲(chǔ)芯片（EMMC/SSD/Nand Flash）、觸控芯片、車規(guī)級(jí)芯片等提供專業(yè)的測(cè)試方案，

Burn in及量產(chǎn)測(cè)試能力